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Zuim , Fabio, Centro Brasileiro de Pesquisas Físicas - CBPF, Brazil
NOTAS TÉCNICAS Vol. 7 No. 2 (2017)
Artigos
Artefatos causados pelo feixe de íons Ga durante o preparo de amostras de silício no microscópio de íons focalizados (FIB)
PDF (Português (Brasil))
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